VIP Extended

VIP Extended è un sistema ATE altamente configurabile e pensato per il test parallelo di dispositivi a base di silicio, SiC e GaN, includendo driver high-side/low-side, IGBT, MOSFET di potenza e power IC. Progettato per wafer sort, strip test, Pick & Place, Gravity, il sistema offre fino a 48 siti paralleli per testare parametri come Rg, Cg e UiS, garantendo un’elevata produttività per dispositivo (UPH) e un costo di test contenuto.
Il sistema comprende fino a 48 risorse DC a quattro quadranti (±80 V, ±4 A), 48 current sink/source programmabili fino a ±250 A, 320 canali digitali con livelli variabili da –1,25 V a 6,75 V, memoria pattern da 64 M per canale e fino a 192 driver digitali flottanti. La misurazione temporale è affidata a un’unità TMU con 48 canali e fino a 48 misuratori LCR, 64 PPMU e 48 picoAmperometri (accuratezza 20 pA), oltre a 64 carichi induttivi e resistivi.
Il tutto è contenuto in un cabinet compatto (350×600×640 mm), ideale per l’integrazione in linee di produzione.
VIP Extended è pensato per offrire modularità su più configurazioni di test, adattandosi alle esigenze specifiche del device e riducendo il costo per test grazie alla densità delle risorse e alla flessibilità operativa. Inoltre, supporta applicazioni in ambiti automotive, consumer, industriale, spaziale e MEMS, integrandosi perfettamente in ambienti con elevati volumi produttivi.
In sintesi, VIP Extended combina alte prestazioni di test parallelo, ampia configurabilità delle risorse, elevata precisione e compattezza, risultando una soluzione efficace per il collaudo di dispositivi di potenza avanzati in settori che richiedono produttività, flessibilità e costi contenuti.