HATINA GP

HATINA GP è un sistema ATE general-purpose sviluppato da Microtest per il collaudo ad alta parallelizzazione di ASIC, PMIC e IC/SoC Smart Power. Progettato per applicazioni wafer-level e in package, il sistema integra risorse modulari per test DC, digitali e misure complesse, con una gestione intelligente delle risorse che consente di massimizzare l’efficienza e ridurre il costo di test. Grazie alla presenza di multiplexer interni, semplifica la progettazione della load board, migliorando l’affidabilità e riducendo gli ingombri. L’architettura supporta fino a 10 slot configurabili. Le risorse per slot includono canali digitali fino a 800 MHz, DPS ad alta corrente, misure di precisione con risoluzione di 20 pA e strumenti avanzati come AWG, LCR meter e digitizer. Il sistema è compatto, a basso consumo e facilmente integrabile in ambienti di produzione automatizzati. Il software Kronos consente lo sviluppo rapido e automatizzato dei test program, ottimizzando il time-to-market. HATINA GP rappresenta una soluzione ideale per ambienti produttivi che richiedono flessibilità, scalabilità e alte prestazioni, in particolare nei settori automotive, industrial e smart power.